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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:耦合器加熱用試驗(yàn)裝置

  • 產(chǎn)品型號(hào):HK1125
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簡(jiǎn)單介紹:
耦合器加熱用試驗(yàn)裝置GB17465.1-2009第18.2條、圖13以及IEC60320-1第18.2條及圖13的要求,耦合器加熱用試驗(yàn)裝置用於耦合器在熱條件或酷熱條件下的耐熱性能測(cè)試;
詳情介紹:

 耦合器加熱用試驗(yàn)裝置GB17465.118.2條、圖13以及IEC60320-118.2條及圖13的要求,用於耦合器在熱條件或酷熱條件下的耐熱性能測(cè)試;

耦合器加熱用試驗(yàn)裝置技術(shù)參數(shù):

1.耦合器加熱用試驗(yàn)裝置加熱溫度:RT常溫~200℃;

2.耦合器加熱用試驗(yàn)裝置溫度分辨率0.1℃,誤差±1℃;

3.加熱控製方式:溫控表PID控製;

4.耦合器中心距:以Φ175的圓均布排列;

5.耦合器加熱用試驗(yàn)裝置計(jì)時(shí)器:19999h

6.試樣溫度探頭類型:T型;

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